日本densoku渦電流式膜厚計(jì) DS-110

日本densoku渦電流式膜厚計(jì) DS-110

渦電流式膜厚計(jì) DS-110

水晶発振により高精度
短い測(cè)定時(shí)間で曲面?球面対での測(cè)定も可能

?測(cè)定値表示がデジタル式で読み取りやすい
?スイッチを入れると同時(shí)に測(cè)定開(kāi)始、測(cè)定時(shí)間も1秒以?xún)?nèi)
?水晶発振方式により、高安定（±1％）高精度
?非破壊だから全數(shù)検査が可能
?直読式だから換算不要

渦電流式膜厚計(jì) DS-110 の特長(zhǎng)

読み取りやすいデジタル式

測(cè)定値表示がデジタル式で読み取りやすいです。

すぐに測(cè)定が可能

スイッチを入れると同時(shí)に測(cè)定が可能。測(cè)定時(shí)間も1秒以?xún)?nèi)です。

高安定（±1％）高精度

水晶発振方式により、高安定（±1％）高精度。

全數(shù)検査が可能

非破壊ですので全數(shù)検査ができます。

換算の必要なし

直読式で換算の必要がありません。

多様な測(cè)定に対応

金屬上の皮膜、めっき、塗裝、樹(shù)脂等の測(cè)定ができます。（例：アルミ上の酸化膜、鉄上の亜鉛等のめっき、塗裝）

1000データまで保存可能

1本の検査線で1000データが保存可能です。

非金屬上の金屬皮膜も測(cè)定

非金屬上の金屬皮膜（例　プラスチック上のめっき）の測(cè)定ができます。

標(biāo)準(zhǔn)で4種類(lèi)、大70種類(lèi)の膜厚測(cè)定が可能

スイッチを切り替えることで、4種類(lèi)までの膜厚測(cè)定ができます。また、メーカで検査線を入れ替えることで、70種類(lèi)以上の膜厚測(cè)定ができます。

曲面、球面體、パイプの內(nèi)部でも測(cè)定可能

曲面、球面體でも測(cè)定可能です。また、パイプ等內(nèi)面も測(cè)定できます（φ12.7mm以上）。

プリントアウト機(jī)能

測(cè)定データと統(tǒng)計(jì)処理値をプリントアウトできます。

測(cè)定原理

高周波電流を流したプローブ（測(cè)定子コイル）を金屬に接近させると、金屬表層部に渦電流が生じます。この渦電流は、高周波磁界の強(qiáng)さ、周波數(shù)、その金屬の導(dǎo)電性、厚さ、形狀等により影響を受け、浸透深さ及びその大きさが異なります。 そして渦電流は、プローブの高周波磁界を打ち消すように流れますので、プローブの高周波抵抗値が変化します。この高周波抵抗値の変化分を増幅し、カーブ補(bǔ)正を行って、デジタル値で表示します。このため膜厚値を直接數(shù)字で読み取ることができます。カーブ補(bǔ)正はマイクロコンピュータによる計(jì)算で行っています。このため高精度で、高安定です。

渦電流式膜厚計(jì) DS-110 の仕様

（注）仕様は予告なく変更されることがあります。

渦電流式膜厚計(jì) DS-110 のプローブ仕様