產(chǎn)品資料
日本napson平板電阻薄層電阻測量半自動裝置
產(chǎn)品名稱: 日本napson平板電阻薄層電阻測量半自動裝置
產(chǎn)品型號: RG-100PV
產(chǎn)品特點(diǎn): 日本napson平板電阻薄層電阻測量半自動裝置玻璃基板上薄膜的四探針法半自動測量儀XY軸機(jī)構(gòu)臺平面內(nèi)多點(diǎn)測量配備了均勻螺距或隨機(jī)螺距設(shè)置選擇以及2-D ??/ 3-D映射軟件。
日本napson平板電阻薄層電阻測量半自動裝置 的詳細(xì)介紹
日本napson平板電阻薄層電阻測量半自動裝置
測量規(guī)格
測量目標(biāo)
- 與半導(dǎo)體/太陽能電池相關(guān)的材料（硅，多晶硅，SiC等）
- 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
- 導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬，ITO等）
- 擴(kuò)散樣品硅基薄膜（LTPS等），IGZO
- 硅基外延離子注入樣品
- 與化合物半導(dǎo)體有關(guān)的（GaAs，Epi，GaN，Epi，InP，Ga等）
- 其他（*請與我們聯(lián)系）
測量尺寸
大300 x 300毫米（選件;大500 x 500毫米）
測量范圍
[電阻（比電阻）] 1m至200Ω·cm
[片電阻] 1m至1,000kΩ/ sq（選件；?10MΩ/ sq）
測量規(guī)格
測量目標(biāo)
- 與半導(dǎo)體/太陽能電池相關(guān)的材料（硅，多晶硅，SiC等）
- 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
- 導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬，ITO等）
- 擴(kuò)散樣品硅基薄膜（LTPS等），IGZO
- 硅基外延離子注入樣品
- 與化合物半導(dǎo)體有關(guān)的（GaAs，Epi，GaN，Epi，InP，Ga等）
- 其他（*請與我們聯(lián)系）
測量尺寸
大300 x 300毫米（選件;大500 x 500毫米）
測量范圍
[電阻（比電阻）] 1m至200Ω·cm
[片電阻] 1m至1,000kΩ/ sq（選件；?10MΩ/ sq）
映射圖像
![半自動類型<br />（多點(diǎn)測量系統(tǒng)[包括軟件+ PC]）](https://www.napson.co.jp/wp/wp-content/uploads/2014/08/2D%E8%A7%92%E5%9E%8B%E3%83%9E%E3%83%83%E3%83%94%E3%83%B3%E3%82%B02.jpg)
![半自動類型<br />（多點(diǎn)測量系統(tǒng)[包括軟件+ PC]）](https://www.napson.co.jp/wp/wp-content/uploads/2014/08/3D%E8%A7%92%E5%9E%8B%E3%83%9E%E3%83%83%E3%83%94%E3%83%B3%E3%82%B02-640x561.jpg)
日本napson平板電阻薄層電阻測量半自動裝置
相關(guān)產(chǎn)品
產(chǎn)品目錄
-
分析儀器
- 污泥檢測儀
- 分光測計(jì)
- 鹽度計(jì)
- 計(jì)數(shù)器
- 糖度計(jì)
- 水位計(jì)
- 超聲波厚度計(jì)
- 測力計(jì)
- 振動計(jì)
- 探測器
- 壓力調(diào)整器
- 水平儀
- 電阻率計(jì)
- 離心機(jī)
- 送料器
- 電位儀
- 膜厚計(jì)
- 電流表
- 數(shù)字秤
- 天平
- 水分儀
- 白度計(jì)
- 校準(zhǔn)器
- 質(zhì)構(gòu)儀
- 試驗(yàn)器
- 氣度儀
- 測試儀
- 分析儀
- 粘度計(jì)
- 光度計(jì)
- 科學(xué)機(jī)器
- 加壓容器
- 二氧化碳分析儀器
- 控制器
- 檢測套件
- 分析測定類
- 殘留檢測
- 粉體行業(yè)
- 化妝品行業(yè)
- 糧食行業(yè)
- 食品行業(yè)
- 水產(chǎn)行業(yè)
- 鋰電池行業(yè)
聯(lián)系我們
聯(lián)系人：林經(jīng)理
地址：深圳市龍崗區(qū)龍崗街道新生社區(qū)新旺路和健云谷2棟B座1002
Email：akiyama_linkkk@163.com
郵編：
QQ：909879999
地址：深圳市龍崗區(qū)龍崗街道新生社區(qū)新旺路和健云谷2棟B座1002
Email：akiyama_linkkk@163.com
郵編：
QQ：909879999
在線客服