產(chǎn)品資料
日本ae-mic超高電阻測試儀
產(chǎn)品名稱: 日本ae-mic超高電阻測試儀
產(chǎn)品型號: AE-1644E
產(chǎn)品特點: 日本ae-mic超高電阻測試儀適用于 安裝10kΩ?1TΩ芯片，Melf，軸向型超高電阻機器分選機，激光和切割機修整機
日本ae-mic超高電阻測試儀 的詳細介紹
日本ae-mic超高電阻測試儀
- 高速積分方法，噪聲誤差小（可以為每個范圍設置積分時間）
- 參考電阻值4位數(shù)字設置允許百分測量（±50.00％）
- 可能的修整模式
- 比較器判斷結(jié)果可以是集電極開路輸出，LED顯示和蜂鳴器聲音
- 可以聯(lián)系檢查
- RS-232C接口標準設備（GP-IB /中央電子輸出是可選的）
- 內(nèi)置換檔螺線管電源（可選）[DC12V（2A）/ 24V（1A）/脈沖輸出（2A）]
測量范圍和基本精度（環(huán)境溫度23°C±5°C）
| 測量范圍 | 測量范圍 | 測量精度 | |||
|---|---|---|---|---|---|
| 測量電壓H | 測量電壓L | ||||
| 100kΩ的 | 5.00kΩ至150.00kΩ | 15伏 | ±0.03％±1位數(shù)[讀數(shù)的±0.1％±1位數(shù)] | 15伏 | ±0.03％±1位數(shù)[讀數(shù)的±0.1％±1位數(shù)] |
| 1兆歐 | 50.0kΩ?1500.0kΩ | ||||
| 10兆歐 | 0.500MΩ至15.000MΩ | ||||
| 100兆歐 | 5.00MΩ至150.00MΩ | 100伏 | ±0.05％±1位數(shù)[讀數(shù)的±0.2％±1位數(shù)] | 15伏 | ±0.3％±1位數(shù)[讀數(shù)的±1.2％±1位數(shù)] |
| 1GΩ | 50.0MkΩ至1500.0MΩ | ||||
| 10GΩ | 0.500GΩ至15.000GΩ | 100伏 | ±0.2％±1位數(shù)[讀數(shù)的±0.5％±1位數(shù)] | 15伏 | ±1.2％±2位數(shù)[讀數(shù)的±1.5％±1位數(shù)] |
| 100GΩ | 5.00GΩ至150.00GΩ | 200伏 | ±0.5％±2位數(shù)[讀數(shù)的±0.8％±2位數(shù)] | 15伏 | ±1.5％±2位數(shù)[讀數(shù)的±2.0％±2位數(shù)] |
| 1兆歐 | 50.00GΩ?1500.0GΩ | 200伏 | ±0.1％±4位數(shù)字[讀數(shù)的±1.5％±4位數(shù)字] | 無法選擇 | |
| 測量值顯示范圍 | 測量值的％：±50.00％ |
|---|---|
| OHM測量：500?15000 | |
| 測量方式 | 恒壓測量[可以通過2端子測量進行接觸檢查] |
| 測量時間 | （將被測物體連接到測量端子后，經(jīng)過足夠的穩(wěn)定時間后輸入啟動信號） |
| [外部啟動整合時間] | |
| [FAST] 1?29毫秒（可以1毫秒為單位設置。 | |
| [SLOW] PLC50Hz：20.0毫秒×（1?9）周期（可以1周期為單位設置）大180毫秒。 | |
| PLC60Hz：16.7毫秒×（1?9）周期（可以1周期為單位設置）大150.3毫秒。 | |
| [自由運行]：大約3次/秒至20次/秒 | |
| 比較器設定范圍 | ％測量：HI和LO均為±50.00％OHM測量：HI和LO均為500至15000 |
| 控制信號 | 測量開始信號：以“ L” [0V]→“ H” [DC12V]開始 |
| 保持信號：斷開，“ H” [DC12V]：自由運行，“ L” [0V]：保持 | |
| 判斷結(jié)果信號：[LO / GO / HI]，測量結(jié)束信號[EOC]集電極開路輸出大40V 100mA | |
| 周邊環(huán)境 | 溫度：5℃?+ 40℃濕度：85％以下 |
| 需要電源 | AC85V-265V，50-60Hz，約20VA |
| 外形尺寸 | 333（W）x 99（H）x 300（D）mm（不包括橡膠腳等突起） |
| 重量 | 約2.5公斤 |
| 標準 | 支持CE標記 |
| 選項 | ? GP-IB | 這些選項中 只有一個可以內(nèi)置。 |
|---|---|---|
| ?打印機輸出 | ||
| ?換檔/電磁電源 | ||
| ?打印機電纜 |
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