半導(dǎo)體高精度檢測(cè)鹵素光源燈裝置

產(chǎn)品名稱: 半導(dǎo)體高精度檢測(cè)鹵素光源燈裝置

產(chǎn)品型號(hào): YP-150ID

產(chǎn)品特點(diǎn): 半導(dǎo)體高精度檢測(cè)鹵素光源燈裝置
日本山田光學(xué) YP-150ID 是一款高亮度鹵素光源設(shè)備，主要用于半導(dǎo)體晶圓、液晶基板等表面缺陷的宏觀檢查。以下是其核心特點(diǎn)和技術(shù)參數(shù)：
主要特點(diǎn)：
超高亮度：樣品表面照度可達(dá) 400,000 Lx 以上，能清晰檢測(cè)微小劃痕、異物、拋光不均等缺陷。
冷鏡技術(shù)：采用冷鏡減少熱影響，熱效應(yīng)僅為傳統(tǒng)鋁鏡的 1/3，有效保護(hù)樣品和設(shè)備。
色溫高：鹵素?zé)羯珳剡_(dá) 3,400

半導(dǎo)體高精度檢測(cè)鹵素光源燈裝置 的詳細(xì)介紹

半導(dǎo)體高精度檢測(cè)鹵素光源燈裝置

日本山田光學(xué) YP-150ID 是一款高亮度鹵素光源設(shè)備，主要用于半導(dǎo)體晶圓、液晶基板等表面缺陷的宏觀檢查。以下是其核心特點(diǎn)和技術(shù)參數(shù)：

主要特點(diǎn)：

超高亮度：樣品表面照度可達(dá) 400,000 Lx 以上，能清晰檢測(cè)微小劃痕、異物、拋光不均等缺陷。
冷鏡技術(shù)：采用冷鏡減少熱影響，熱效應(yīng)僅為傳統(tǒng)鋁鏡的 1/3，有效保護(hù)樣品和設(shè)備。
色溫高：鹵素?zé)羯珳剡_(dá) 3,400K，照明穩(wěn)定、銳利，適合高精度檢測(cè)。
兩段式切換：支持一鍵切換高照度與低照度觀察模式，適應(yīng)不同檢測(cè)需求。

技術(shù)參數(shù)（YP-150ID）：

表格

復(fù)制

項(xiàng)目	參數(shù)值
照射直徑	φ30 mm
照度	≥400,000 Lx
光束距離	140 mm
燈泡型號(hào)	JCR15V150W（牛尾）
燈泡壽命	35–50 小時(shí)
色溫	3,400 K
冷卻方式	強(qiáng)制風(fēng)扇冷卻
尺寸（燈屋部分）	100×245×116 mm
重量（燈屋部分）	約 1.7 kg
電源	AC 100V，50/60Hz
功耗	約 200W

應(yīng)用場(chǎng)景：

半導(dǎo)體晶圓表面缺陷檢測(cè)（如劃痕、異物、霧度等）；
液晶基板、玻璃等材料的表面質(zhì)量檢查；
適用于 6 英寸及以下尺寸樣品的檢查。

YP-150ID 是精密制造行業(yè)中用于高亮度照明檢測(cè)的理想選擇，尤其適合對(duì)微小缺陷有高靈敏度要求的場(chǎng)合。

日本山田光學(xué) YP-150ID 是一款高亮度鹵素光源設(shè)備，主要用于半導(dǎo)體晶圓、液晶基板等表面缺陷的宏觀檢查。以下是其核心特點(diǎn)和技術(shù)參數(shù)：

主要特點(diǎn)：

超高亮度：樣品表面照度可達(dá) 400,000 Lx 以上，能清晰檢測(cè)微小劃痕、異物、拋光不均等缺陷。
冷鏡技術(shù)：采用冷鏡減少熱影響，熱效應(yīng)僅為傳統(tǒng)鋁鏡的 1/3，有效保護(hù)樣品和設(shè)備
。
色溫高：鹵素?zé)羯珳剡_(dá) 3,400K，照明穩(wěn)定、銳利，適合高精度檢測(cè)
。
兩段式切換：支持一鍵切換高照度與低照度觀察模式，適應(yīng)不同檢測(cè)需求。

技術(shù)參數(shù)（YP-150ID）：

表格

復(fù)制

項(xiàng)目	參數(shù)值
照射直徑	φ30 mm
照度	≥400,000 Lx
光束距離	140 mm
燈泡型號(hào)	JCR15V150W（牛尾）
燈泡壽命	35–50 小時(shí)
色溫	3,400 K
冷卻方式	強(qiáng)制風(fēng)扇冷卻
尺寸（燈屋部分）	100×245×116 mm
重量（燈屋部分）	約 1.7 kg
電源	AC 100V，50/60Hz
功耗	約 200W