臺式式高精度直流絕緣性能測試儀高阻計臺式式高精度直流絕緣性能測試儀高阻計

日本 Musashi 武藏 D1-11N 系列 405 絕緣電阻測試儀是一款 臺式高精度直流絕緣電阻計，主要用于鋰電池、電容器、半導體器件、印刷電路板、薄膜材料等 高阻值、微漏電流 的絕緣性能評估。核心信息如下：? 產(chǎn)品定位非手持式兆歐表，而是 實驗室級高阻計（Tera-ohmmeter）可測 絕緣電阻、漏電流、體電阻、表面電阻適用于 電池隔膜、電解電容、PCB 基材、OLED 封裝、薄膜絕緣層 等? 核心參數(shù)（D1-11N-405 型）表格復制項目規(guī)格測試電壓1 V – 1000 V（1 V 步進）絕緣電阻范圍1 kΩ – 10 PΩ（10×101? Ω）漏電流范圍0.1 fA – 1 mA（10?1? A 級）精度±1 %（電阻 ≤ 10 TΩ） / ±5 %（> 10 TΩ）測試時間0.1 s – 999.9 s 可設(shè)定采樣速率最高 1 000 次/秒（高速模式）輸出接口USB、RS-232、LAN（可選）、模擬輸出? 技術(shù)亮點fA 級漏電流檢測采用 三同軸 + 屏蔽 + 浮地設(shè)計，背景噪聲 < 0.1 fA可測 電池隔膜離子透過率、OLED 封裝漏電流、PCB 表面絕緣自動極性反轉(zhuǎn)（PIV）軟件設(shè)定正負電壓循環(huán)，消除靜電累積，適合 極化薄膜 測試溫度 & 濕度同步采集可外接溫濕度探頭，自動記錄 R-t-T-RH 曲線，用于 IEC-60093、ASTM D257 標準報告高壓斜坡掃描線性升壓 1 – 1000 V，掃描速率 0.1 – 100 V/s，繪制 V-I 曲線，定位 擊穿電壓體電阻 & 表面電阻自動切換搭配 環(huán)形電極箱（D1-11N-BOX），一鍵切換 體積電阻率（ρv） 與 表面電阻率（ρs）? 典型應用表格復制行業(yè)測試對象典型指標鋰電池隔膜、鋁塑膜1000 V 下絕緣 > 1 TΩ·cm電容薄膜電容、電解電容漏電流 < 1 nA @ 500 V半導體封裝基板、晶圓級封裝表面電阻 > 1012 Ω/□OLED封裝玻璃、PI 膜漏電流 < 1 pA @ 100 VPCBFR-4、聚酰亞胺體電阻 > 1013 Ω·cm? 外形與安裝臺式尺寸：W 260 × D 380 × H 140 mm，重量 6.2 kg前面板：7 英寸觸控，中文 / 英文 / 日文菜單后面板：高壓輸出 BNC、三同軸信號輸入、USB/LAN可選機架：EIA 19 英寸 4U 上架套件? 標準與校準符合 JIS C 1302、IEC 60093、ASTM D257、IEC 61340-2-3附贈 10 GΩ / 1 TΩ 標準電阻器，用戶 30 秒完成日常校驗建議 12 個月返廠計量，出具 JCSS 溯源證書? 一句話總結(jié)D1-11N-405 是一臺可輸出 1 V – 1 kV、能測到 10 PΩ / 0.1 fA 級別的臺式高阻計，專為 電池隔膜、OLED 封裝、PCB 基材 等超高阻絕緣性能測試設(shè)計，具備 fA 級分辨率、自動極性反轉(zhuǎn)、溫濕度同步記錄 等實驗室功能，是材料級絕緣性能研究和質(zhì)控的“臺式 tera-ohmmeter"。日本 Musashi 武藏 D1-11N 系列 405 絕緣電阻測試儀是一款 臺式高精度直流絕緣電阻計，主要用于鋰電池、電容器、半導體器件、印刷電路板、薄膜材料等 高阻值、微漏電流 的絕緣性能評估。核心信息如下：? 產(chǎn)品定位非手持式兆歐表，而是 實驗室級高阻計（Tera-ohmmeter）可測 絕緣電阻、漏電流、體電阻、表面電阻適用于 電池隔膜、電解電容、PCB 基材、OLED 封裝、薄膜絕緣層 等? 核心參數(shù)（D1-11N-405 型）表格復制項目規(guī)格測試電壓1 V – 1000 V（1 V 步進）絕緣電阻范圍1 kΩ – 10 PΩ（10×101? Ω）漏電流范圍0.1 fA – 1 mA（10?1? A 級）精度±1 %（電阻 ≤ 10 TΩ） / ±5 %（> 10 TΩ）測試時間0.1 s – 999.9 s 可設(shè)定采樣速率最高 1 000 次/秒（高速模式）輸出接口USB、RS-232、LAN（可選）、模擬輸出? 技術(shù)亮點fA 級漏電流檢測采用 三同軸 + 屏蔽 + 浮地設(shè)計，背景噪聲 < 0.1 fA可測 電池隔膜離子透過率、OLED 封裝漏電流、PCB 表面絕緣自動極性反轉(zhuǎn)（PIV）軟件設(shè)定正負電壓循環(huán)，消除靜電累積，適合 極化薄膜 測試溫度 & 濕度同步采集可外接溫濕度探頭，自動記錄 R-t-T-RH 曲線，用于 IEC-60093、ASTM D257 標準報告高壓斜坡掃描線性升壓 1 – 1000 V，掃描速率 0.1 – 100 V/s，繪制 V-I 曲線，定位 擊穿電壓體電阻 & 表面電阻自動切換搭配 環(huán)形電極箱（D1-11N-BOX），一鍵切換 體積電阻率（ρv） 與 表面電阻率（ρs）? 典型應用表格復制行業(yè)測試對象典型指標鋰電池隔膜、鋁塑膜1000 V 下絕緣 > 1 TΩ·cm電容薄膜電容、電解電容漏電流 < 1 nA @ 500 V半導體封裝基板、晶圓級封裝表面電阻 > 1012 Ω/□OLED封裝玻璃、PI 膜漏電流 < 1 pA @ 100 VPCBFR-4、聚酰亞胺體電阻 > 1013 Ω·cm? 外形與安裝臺式尺寸：W 260 × D 380 × H 140 mm，重量 6.2 kg前面板：7 英寸觸控，中文 / 英文 / 日文菜單后面板：高壓輸出 BNC、三同軸信號輸入、USB/LAN可選機架：EIA 19 英寸 4U 上架套件? 標準與校準符合 JIS C 1302、IEC 60093、ASTM D257、IEC 61340-2-3附贈 10 GΩ / 1 TΩ 標準電阻器，用戶 30 秒完成日常校驗建議 12 個月返廠計量，出具 JCSS 溯源證書? 一句話總結(jié)D1-11N-405 是一臺可輸出 1 V – 1 kV、能測到 10 PΩ / 0.1 fA 級別的臺式高阻計，專為 電池隔膜、OLED 封裝、PCB 基材 等超高阻絕緣性能測試設(shè)計，具備 fA 級分辨率、自動極性反轉(zhuǎn)、溫濕度同步記錄 等實驗室功能，是材料級絕緣性能研究和質(zhì)控的“臺式 tera-ohmmeter"。

? 產(chǎn)品定位

• 非手持式兆歐表，而是 實驗室級高阻計（Tera-ohmmeter）
• 可測 絕緣電阻、漏電流、體電阻、表面電阻
• 適用于 電池隔膜、電解電容、PCB 基材、OLED 封裝、薄膜絕緣層 等

? 核心參數(shù)（D1-11N-405 型）

? 技術(shù)亮點

1. fA 級漏電流檢測
• 采用 三同軸 + 屏蔽 + 浮地設(shè)計，背景噪聲 < 0.1 fA
• 可測 電池隔膜離子透過率、OLED 封裝漏電流、PCB 表面絕緣
2. 自動極性反轉(zhuǎn)（PIV）
• 軟件設(shè)定正負電壓循環(huán)，消除靜電累積，適合 極化薄膜 測試
3. 溫度 & 濕度同步采集
• 可外接溫濕度探頭，自動記錄 R-t-T-RH 曲線，用于 IEC-60093、ASTM D257 標準報告
4. 高壓斜坡掃描
• 線性升壓 1 – 1000 V，掃描速率 0.1 – 100 V/s，繪制 V-I 曲線，定位 擊穿電壓
5. 體電阻 & 表面電阻自動切換
• 搭配 環(huán)形電極箱（D1-11N-BOX），一鍵切換 體積電阻率（ρv） 與 表面電阻率（ρs）

? 典型應用

? 外形與安裝

• 臺式尺寸：W 260 × D 380 × H 140 mm，重量 6.2 kg
• 前面板：7 英寸觸控，中文 / 英文 / 日文菜單
• 后面板：高壓輸出 BNC、三同軸信號輸入、USB/LAN
• 可選機架：EIA 19 英寸 4U 上架套件

? 標準與校準

• 符合 JIS C 1302、IEC 60093、ASTM D257、IEC 61340-2-3
• 附贈 10 GΩ / 1 TΩ 標準電阻器，用戶 30 秒完成日常校驗
• 建議 12 個月返廠計量，出具 JCSS 溯源證書

? 一句話總結(jié)